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Ux-6200产品信息：本仪器专门针对贵金属测试，采用最新的科技分析X荧光光谱，对贵金属成份进行无损快速分析，该仪器采用最新Si-PIN探测器，其分辨率为149±5eV，运用领先于全球的基本参数法，能够准确无误地分析出黄金、铂金等材料中含有的其它少量杂质元素，其稳定性和可靠性均处于业内领先水平。Ux-6200应用领域： 贵金属(Pt、Au、Pd、Ag、Rh等)相关制品的生产、销售、回收的检测； 用于各种金属合金（铜合金、铁合金、不锈钢、锡合金等）的成份分析。Ux-6200功能： 开放式工作曲线，可以根据需求建立新工作区 经验系数法和基本参数法相结合 测试样品：各种不同形状样品，满足大样品测试需求 安全性能：迷宫式设计，完全达到辐射安全指标 测试操作简单，实现傻瓜式操作模式 报告模板多样化，适应各种测试需求Ux-6200仪器参数： 分析软件：Ux-6280专用贵金属分析软件 分析元素种类：26种元素可同时分析 分析方法：基本参数法（定量） 分析元素范围：Na-U,可同时分析26种元素 测量范围：ppm-100% 测量时间：100－300s 精确度：0.1%（常量相对误差） 分辨率：149±5eV 管压：5KV—50KV 管流：50uA—1000uA 功率：350W 外形尺寸：640（W）*474（D）*412（H）（mm3） 样品仓尺寸：300（W）*300（D）*100（H）（mm3） 重量：约48Kg 工作环境：15－30°C，相对湿度≤85%（不结露） 工作电源：AC220－240V，50/60Hz，350WUx-6200标准配置： 探测器： 2级半导体电制冷；探测器晶体厚度500μm；探测灵敏面积6mm2；Be窗厚度为1mil 高压电源：高压范围0-50kV，功率50W，8h稳定性0.05% X射线管：专用薄铍窗侧窗X射线管（Mo靶、Rh靶） 高清摄像头装置 精确定位装置 自动开盖装置