类型:LED基片平坦度光学检测仪 | 测量时间:0.2(s) | 型号:FT-17/ FT-900 |
品牌:Nidek | 加工定制:否 | 测量重复性:99.999(%) |
测量范围:2000000(um) | 测量准确度:99.9999(%) |
Nidek高精密平面度检测仪, 适用于透明晶体物体(如蓝宝石晶片等)和LED外延晶片、芯片的检测。
其应用不仅局限于对蓝宝石衬底单面/双面的表面平坦检测,而且更多地应用于对外延之后,外延层表面品质、TTV等的检测和评估。
在电脑显示屏上,它可自动生成三维立体的表面彩色效果图,以帮助人们清楚细微地、直观地了解和掌握对象物表面层生长的情况。
此外,它也适用于液晶电视屏幕面板所需要的大而平的图形掩膜的检测。
FT-17 Series | FT-900 Series | |||||
无解析 无显示 | 带解析 | 带解析 (V2规格) | 无解析 无显示 | 带解析 | 带解析 (V2规格) | |
测定方法 | 光波干涉方式(斜入射) | |||||
光源 | 半导体激光(655nm、3mW) | He-Ne激光(632.3A、5mW) | ||||
样本尺寸 | 直径130mm以下 (平坦度测定100mm以下) | 直径200mm以下 | ||||
样本厚度 | 2000um以下(根据测量承载台不同,最大可达10mm),其他厚度需客户另行协商 | |||||
样本种类 | Wafer(Si、化合物、酸化物、玻璃)、金属片、硬盘(铝、玻璃)等镜面和非镜面(反射率低的非镜面不可测试) | |||||
样本倾斜角度 | 垂直方向倾斜8度 | 垂直或垂直方向倾斜8度 | ||||
干涉计设定敏感度 | 1、2、3、4、5u/纹理(下底面基准时只有1、2um/纹理,且厚度1mm以上时1um/纹理) | |||||
测定范围 | 纹理敏感度30倍(根据纹理状况以及测试镜头倍率关系,有时不能达到30倍) | |||||
摄影镜头倍率 | 3倍以上 | |||||
显示分解能 | 0.01um | 0.01um | ||||
重复精度 Repeatability:1б | 0.02S+0.02M(um) 条件:样本设定后连续测试 S:纹理敏感度 M:测定值 | 0.02S+0.02M(um) 条件:样本设定后连续测试 S:纹理敏感度 M:测定值 |
Nidek高精密平面度检测仪, 适用于透明晶体物体(如蓝宝石晶片等)和LED外延晶片、芯片的检测。
其应用不仅局限于对蓝宝石衬底单面/双面的表面平坦检测,而且更多地应用于对外延之后,外延层表面品质、TTV等的检测和评估。
在电脑显示屏上,它可自动生成三维立体的表面彩色效果图,以帮助人们清楚细微地、直观地了解和掌握对象物表面层生长的情况。
该产品目前已在国内大手厂商中广泛采用,特别是在外延片的品质检测方面。颇受好评。
据不完全统计,至2011年底该产品已被国内LED外延片30多家厂家所使用。
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